奥林巴斯3D 测量激光显微镜广泛应用于不同行业的质量控制、研究和开发过程,它在激光显微领域树立了全新的标准。现在,为满足测量精度不断提高和测量范围日益扩大的需求,奥林巴斯推出了新型产品LEXT OLS4000。该产品不但可以让测量更加快速、简单,而且可以拍摄到更高画质的影像,大大突破了激光显微镜的界限。
OLS4000采用了5项激光技术,短波长激光光源、共焦光学系统、XY扫描、获取色彩逼真影像及Z轴扫描,读光栅尺,最大极限的利用了“光”的的力量
LSM 采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统,会删除未聚焦区域的信号,只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力,可以生成高画质的影像,实现精确的3D测量。
■应用
LEXT OLS4000可用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D 表面形貌、
2D 的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。
精密部件:检测对表面磨损,表面粗糙度,表面微结构有要求的零部件;
生命科学
电子元件:光掩膜,微透镜,柔性电路板接触点,MEMS等
半导体:晶圆凸起,导光板,芯片焊点,导光板激光点等
原材料/金属加工:电镀金刚石工具,碳精棒,极细管,胶带等
纸张:纸张、钱币表面三维形貌测量
LED行业
■技术参数
光源:405nm半导体激光 白色LED
检出系统:光电倍增管
变焦:光学变焦:1~8X,数码变焦:1~8X
分辨率:移动分辨率10nm,显示分辨率1nm
物镜转换器:6孔电动物镜转换器
物镜:100x,50x,20x,10x,5x等
XY载物台:100×100 mm(电动载物台),可选: 300×300 mm(电动载物台)
设备咨询联系人:
Ronnie Chen +86-21-13651969369 +86-21-61533166 ronniechen@nanofocus.com.cn